Микроскоп электронный
Электронный микроскоп — прибор, предназначенный для изучения объектов размером менее 1–0,1 мкм, которые невозможно исследовать с помощью световой микроскопии.
Классификация: просвечивающие, отражательные, эмиссионные, растровые, теневые.
Наиболее распространённый тип: просвечивающие электронные микроскопы, в которых изображение получается при прохождении электронов через объект.
Типы электронных линз: магнитные (модели ЭМ-3, ЭМ-8, МЭМ-50, ЭМ-100, УЭМ-100) и электростатические (ЭСМ-50 и др.).
Разрешающая способность: последняя модель ЭМВ-100Л позволяет исследовать частицы размером 2,5 Å.
Применение в минералогии:
- Исследование морфологических особенностей тонкодисперсных частиц размером менее 0,001 мм, слагающих минералы и породы.
- Изучение структуры поверхностей или срезов глин, аргиллитов, углей, руд, акцессориев роста на кристаллах.
Методы приготовления препаратов:
- Для тонкодисперсных частиц — методы суспензий, внедрения в плёнку и порошков.
- Для изучения структуры поверхностей — метод реплик (отпечатков), когда исследуется копия рельефа поверхности объекта.
Возможности: изучение морфологии, степени окристаллизованности и разрушенности минералов, наличие включений; наблюдение процессов кристаллизации; оценка дисперсности тонких фракций глин; однородность минерального состава и наличие примесей; гониометрическое исследование огранённых минералов размером менее 1 мкм; влияние химических реактивов на морфологию и размеры частиц; в ряде случаев — определение минерального состава фракции менее 0,001 мм.
Растровый электронный микроскоп обладает высокой разрешающей способностью и способен создавать трёхмерное изображение. К нему может быть приспособлен рентгеновский спектрометр для элементного анализа на микроучастках от Be до U, а также выявление линейного профиля плотности распределения элементов. Разрешение — до 100 Å. Применяется для изучения структуры поверхности тонкозернистых и стекловатых горных пород (глин, аргиллитов, вулканических стёкол) и поверхностей палеонтологических и палеоботанических объектов.
Э. П. Сальдау
