Метод вращения кристалла
Метод вращения кристалла — способ получения дифракционной картины, возникающей в монокристалле, вращаемом около заданного направления при облучении монохроматическими рентгеновскими лучами. Плёнка, на которой фиксируется дифракционная картина, называется рентгенограммой вращения. В основу метода вращения кристалла, разработанного в 1919–1922 годах, положен принцип спектрометра Брэгга.
В зависимости от интервала углов вращения рассматриваемый метод разделяется на:
- метод полного вращения (кристалл непрерывно вращается во время съёмки в одном и том же направлении);
- метод качания (кристалл поворачивается в обе стороны в пределах ограниченного углового интервала).
При помощи рентгенограмм вращения можно определить:
- элементарную ячейку и трансляционную группу кристаллов, для чего необходимы сведения только об общих закономерностях в расположении интерференционных пятен (расстояние между слоевыми линиями, характер интерференционных кривых);
- пространственную группу кристаллов, для чего необходимо на основе измерений координат интерференционных пятен определить индексы интерференции, соответствующие пятну, то есть произвести индицирование;
- координаты атомов в элементарной ячейке, для чего после индицирования необходимо произвести измерения интенсивности интерференционных пятен;
- ориентировку и симметрию кристаллов.
Образец, используемый для получения рентгенограммы вращения, должен быть прежде всего монокристаллом, но не обязательно ограненным. Автор — Д. П. Сальдау.